仪器型号:Tecnai G²F20 S-TWIN仪器厂家:美国FEI公司

起用日期:2010年03月

仪器简介：

最大放大：105万倍(1,050,000×)

点分辨率：0.24 nm

加速电压：200KV

极限(信息)分辨率：0.14 nm

最小束斑尺寸：0.2nm

样品台：普通单、双倾台，铍双倾台

最大倾转角：±40

X射线能谱仪元素分析范围：B5～U92

X射线能谱仪能量分辨率: 130 eV

先进技术：

1.高角环形暗场扫描透射(HAADF-STEM)

2.欠焦系列波函数重构(TF-EWR)

功能范围:

Tecnai G²F20 S-TWIN透射电子显微镜是一个真正多功能、多用户环境的200KV场发射透射电子显微镜。它将各种透射电镜技术（包括TEM、SEAD、STEM、EDX频谱成像等）方便灵活地有机组合，形成强大的分析功能。利用它可进行：（1）形貌分析，它获得非晶材料的质厚衬度像，多晶材料的衍射衬度像和单晶薄膜的相位衬度像(原子像)；（2）结构分析，观察研究材料结构并对样品进行纳米尺度的微分析，如：高分辨电子显微观察，系列欠焦像分析及出射波函数重构、电子衍射，会聚束电子衍射，纳米束衍射、Z-衬度（原子序数）成像等。成分分析：小到几个纳米尺度的微区或晶粒的成分分析。

实例展示：

2XXX系铝合金中纳米析出相（S相）Z衬度原子像

（A）欠焦校正像 （B）重构后得到的原子像

仪器负责人

第一负责人：杨修波

第二负责人：段石云